介質(zhì)損耗測試儀產(chǎn)品參數(shù) 介損測量是絕緣試驗(yàn)中很基本的方法，可以有效地發(fā)現(xiàn)電器設(shè)備絕緣的整體受潮劣化變質(zhì)，以及局部缺陷等。在電工制造、電氣設(shè)備安裝、交接和預(yù)防性試驗(yàn)中都廣泛應(yīng)用。變壓器、互感器、電抗器、電容器以及套管、避雷器等介損的測量是衡量其絕緣性能的基本方法。 介電特性是電介質(zhì)材料重要的性質(zhì)。在實(shí)際應(yīng)用中，電介質(zhì)材料的介電系數(shù)和介質(zhì)損耗是非常重要的參數(shù)。例如，制造電容器的材料要求介電系數(shù)盡量大，而介質(zhì)損耗盡量小。 技術(shù)參數(shù) | 使用條件 | -15℃～40℃ RH＜80% | | 電源 | AC220V±10% 頻率無限制 | | 交流高壓輸出 | 400V～2200V ±2% 每隔100V 50VA | | 直流高壓輸出 | 200V～600V ±2% 每隔50V | | 溫控感應(yīng)爐 | 50VA；輸出電流：25mA | | 溫控感應(yīng)爐 | zui大功率500W | | 溫度控制范圍 | <100℃ | | 溫度控制誤差 | ±0.5℃ | | 溫度測量分辨率 | 1℃ | | 控溫時(shí)間 | 室溫到90℃，小于20min | | 測量范圍 | tgδ | 無限制 | | Cx | 15PF～300PF | | Rx | 10M-20T | | 分辨率 | △tgδ | 0.00% | | △Cx | 0.01pF | | △Rx | 0.01 | | 精度 | △tgδ | ±(讀數(shù)×0.5%+0.020%) | | △Cx | ±(讀數(shù)×0.5%+0.5PF) | | △Rx | ±讀數(shù)×10% | | 相對介電常數(shù) | εr | 根據(jù)Cx自動(dòng)計(jì)算，精度同Cx | | 體積電阻率 | ρ | 根據(jù)Rx自動(dòng)計(jì)算，精度同Rx | | 外形尺寸 | 450×310×360mm3 | | 重量 | 18kg | | 高低壓之間距離 | 2mm | | 空杯電容量 | 60±2PF | | zui大測試電壓 | 工頻2000V | | 空杯介損 | tgδ＜1×10-4 | | 液體容量 | 約40ml | | 電極材料/td> | 不銹鋼 | | 體積 | 70mm(D)×120mm(H) | 注： 產(chǎn)品外觀以實(shí)際產(chǎn)品為準(zhǔn)，技術(shù)參數(shù)與型號如有變動(dòng)，恕不另行通知，如有盜用或復(fù)印行為，將追究法律責(zé)任。 |
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